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微焦斑 XRF 光譜儀 | FT, EA6000VX 和 X-Strata 系列

微焦斑 XRF 光譜儀 | FT, EA6000VX 和 X-Strata 系列

微焦斑 XRF 光譜儀  FT, EA6000VX 和 X-Strata 系列
產(chǎn)品描述
參數(shù)
技術(shù)參數(shù)
應(yīng)用領(lǐng)域

微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測(cè)試,在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使用、快速和無(wú)損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。

 

未找到相應(yīng)參數(shù)組,請(qǐng)于后臺(tái)屬性模板中添加

 

X-Strata920

  • 正比計(jì)數(shù)器或高分辨率 SDD
  • 元素范圍:鈦 - 鈾,或鋁 - 鈾(SDD)
  • 樣品艙設(shè)計(jì):開槽式
  • XY 軸樣品臺(tái)選擇: 固定臺(tái)、加深臺(tái)、自動(dòng)臺(tái)
  • 最大樣品尺寸:270 x 500 x 150毫米
  • 最大數(shù)量準(zhǔn)直器:6
  • 濾光片:1
  • 最小的準(zhǔn)直器:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)
  • SmartLink 軟件

 

FT110A

  • 正比計(jì)數(shù)器系統(tǒng)
  • 元素范圍:鈦 - 鈾
  • 樣品艙設(shè)計(jì):開閉式或開槽式
  • XY 軸樣品臺(tái)選擇: 開閉式固定臺(tái)、開閉式程控臺(tái)、開槽式固定臺(tái)、開槽式程控臺(tái)
  • 最大樣品尺寸:500 x 400 x 150 毫米
  • 最大數(shù)量準(zhǔn)直器:4
  • 濾光片:初級(jí) 1,二級(jí)(可選)1
  • 最小的準(zhǔn)直器:0.05 毫米
  • X-ray Station 軟件

 

EA6000VX

  • 高分辨率 SDD
  • 元素范圍: 鎂 - 鈾(使用氦氣吹掃時(shí)鈉 - 鈾 )
  • 樣品艙設(shè)計(jì):開閉式
  • XY 軸樣品臺(tái)選擇:自動(dòng)臺(tái)
  • 最大樣品尺寸:270 x 220 x 150 毫米
  • 最大數(shù)量準(zhǔn)直器:4
  • 濾光片:6 種模式自動(dòng)切換
  • 最小的準(zhǔn)直器:0.2 毫米
  • X-ray Station & Mapping Station 軟件

 

FT160

  • 高分辨率 SDD
  • 元素范圍: 鋁 - 鈾
  • 樣品艙設(shè)計(jì):開閉式
  • XY 軸樣品臺(tái)選擇:自動(dòng)臺(tái)、晶片樣品臺(tái)
  • 最大樣品尺寸:600 x 600 x 20 毫米
  • 濾光片:1 或 3
  • 毛細(xì)管聚焦光斑尺寸< 20µm
  • XRF控制器軟件

 

微焦斑 XRF 光譜儀應(yīng)用于 PCB、半導(dǎo)體和電子行業(yè)

 

PCB / PWB 表面處理

控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級(jí)、可靠性和壽命。根據(jù)IPC 4556IPC 4552A測(cè)量非電鍍鎳(ENNiP)電鍍厚度和成分結(jié)構(gòu)。日立分析儀器產(chǎn)品幫助您在嚴(yán)控的范圍內(nèi)持續(xù)運(yùn)營(yíng),確保高質(zhì)量并避免昂貴的返工。

 

電力和電子組件的電鍍

零件必須在規(guī)格范圍內(nèi)被電鍍,以達(dá)到預(yù)期的電力、機(jī)械及環(huán)境性能。 開槽的X-Strata系列產(chǎn)品 ,可以測(cè)量小的試片或連續(xù)帶狀樣品,從而達(dá)到 引線框架(引線框架)、連接器插針、線材和端子的上、中和預(yù)鍍層厚度的控制。

 

IC 載板

半導(dǎo)體器件越來(lái)越小巧而復(fù)雜,需要分析設(shè)備測(cè)量其在小區(qū)域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設(shè)計(jì)為可為客戶所需應(yīng)用提供高準(zhǔn)確性分析,及重復(fù)性好的數(shù)據(jù)。

 

服務(wù)電子制造過(guò)程 EMSECS

結(jié)合采購(gòu)和本地制造的組件及涉及產(chǎn)品的多個(gè)測(cè)試點(diǎn),實(shí)現(xiàn)從進(jìn)廠檢查到生產(chǎn)線流程控制,再到最終質(zhì)量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產(chǎn)品幫助您在全生產(chǎn)鏈分析組件、焊料和最終產(chǎn)品,確保每個(gè)階段的質(zhì)量。

光伏產(chǎn)品

 

對(duì)可再生能源的需求不斷增加,而光伏在收集太陽(yáng)能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽(yáng)能電池的質(zhì)量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準(zhǔn)確度和連貫性,從而確保最高效率。

受限材料和高可靠性篩查

 

與復(fù)雜的全球供應(yīng)鏈合作,驗(yàn)證和檢驗(yàn)從供應(yīng)商處收到的材料至關(guān)重要。使用日立分析儀器的XRF技術(shù),根據(jù)IEC 62321方法檢驗(yàn)進(jìn)貨是否符合RoHSELV等法規(guī)要求,確保高可靠性涂鍍層被應(yīng)用于航空和軍事領(lǐng)域。

 

 

X-Strata920
正比計(jì)數(shù)器

X-Strata920
高分辨率 SDD

FT110A
正比計(jì)數(shù)器

EA6000VX

高分辨率 SDD

FT160
高分辨率 SDD
毛細(xì)管聚焦光
學(xué)系統(tǒng)

ENIG

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

ENEPIG

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

非電鍍鎳厚度和組成 (IPC 4556, IPC 4552)

無(wú)

★★☆

無(wú)

★★★

★★★

非電鍍鎳厚度

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

浸鍍銀

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

浸鍍錫

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

HASL

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

無(wú)鉛焊料(如 SAC)

★☆☆

★★☆

★☆☆

★★★

★★★

CIGS

無(wú)

★★☆

無(wú)

★★★

★★★

CdTe

無(wú)

★★☆

無(wú)

★★★

★★★

納米級(jí)薄膜分析

無(wú)

★★☆

無(wú)

★★★

★★★

多層分析

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

IEC 62321 RoHS 篩選

無(wú)

無(wú)

無(wú)

★★★

無(wú)

檢測(cè)特征 < 50 µm 

無(wú)

無(wú)

無(wú)

無(wú)

★★★

模式識(shí)別軟件

無(wú)

無(wú)

★★★

★★★

★★★

元素分布圖

無(wú)

無(wú)

無(wú)

★★★

無(wú)

 

 

微焦斑 XRF 光譜儀應(yīng)用于金屬表面處理

 

耐腐蝕性

檢驗(yàn)所用涂層的厚度和化學(xué)性質(zhì),以確保產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的功能性和使用壽命。輕松處理小緊固件或大型組件。

 

耐磨性

通過(guò)確保磨蝕環(huán)境中關(guān)鍵部件的涂層厚度和均勻度,預(yù)防產(chǎn)品故障。復(fù)雜的形狀、薄或厚的涂層和成品都可被測(cè)量。

裝飾性表面

當(dāng)目標(biāo)是實(shí)現(xiàn)無(wú)瑕表面時(shí),整個(gè)生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制至關(guān)重要。通過(guò)日立分析儀器的多種測(cè)試設(shè)備,您可以可靠地檢測(cè)基材,中間層和頂層厚度。

 

耐高溫

在極端條件下進(jìn)行的零件的表面處理必須被控制在嚴(yán)格公差范圍內(nèi)。確保符合涂鍍層規(guī)格、避免產(chǎn)品召回和潛在的災(zāi)難性故障。

 

 

X-Strata920
正比計(jì)數(shù)器

X-Strata920
高分辨率SDD

FT110A
正比計(jì)數(shù)器

FT160 
高分辨率SDD

Zn / Fe, Fe 合金
Cr / Fe, Fe 合金
Ni / Fe, Fe 合金

★★☆

★★★

★★☆

★★★

ZnNi / Fe, Fe 合金
ZnSn / Fe, Fe 合金

★★☆

★★★

★★☆

★★★

NiP / Fe
NiP / Cu
NiP / Al

★★☆
(
僅厚度)

★★☆
(
厚度和成分)

★★☆
(
僅厚度)

★★★
(
厚度和成分)

Ag / Cu
Sn / Cu 

★★☆

★★★

★★☆

★★★

Cr / Ni / Cu / ABS

★★☆

★★★

★★☆

★★★

Au / Pd / Ni /CuZn

★★☆

★★★

★★☆

★★★

WC / Fe, Fe 合金
TiN / Fe, Fe 合金

★★☆

★★★

★★☆

★★★

納米級(jí)薄膜分析

無(wú)

★★☆

無(wú)

★★★

多層分析

★★☆

★★★

★★☆

★★★

IEC 62321 RoHS 篩選

無(wú)

無(wú)

無(wú)

無(wú)

DIM可變焦測(cè)試系統(tǒng)

無(wú) 

無(wú)

★★★

無(wú)

模式識(shí)別軟件

無(wú)

無(wú)

★★★

無(wú)

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