X-Strata920

• 正比計數(shù)器或高分辨率 SDD
• 元素范圍：鈦 - 鈾，或鋁 - 鈾（SDD）
• 樣品艙設(shè)計：開槽式
• XY 軸樣品臺選擇： 固定臺、加深臺、自動臺
• 最大樣品尺寸：270 x 500 x 150毫米
• 最大數(shù)量準直器：6
• 濾光片：1
• 最小的準直器：0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)
• SmartLink 軟件

FT110A

• 正比計數(shù)器系統(tǒng)
• 元素范圍：鈦 - 鈾
• 樣品艙設(shè)計：開閉式或開槽式
• XY 軸樣品臺選擇： 開閉式固定臺、開閉式程控臺、開槽式固定臺、開槽式程控臺
• 最大樣品尺寸：500 x 400 x 150 毫米
• 最大數(shù)量準直器：4
• 濾光片：初級 1，二級（可選）1
• 最小的準直器：0.05 毫米
• X-ray Station 軟件

EA6000VX

• 高分辨率 SDD
• 元素范圍： 鎂 - 鈾（使用氦氣吹掃時鈉 - 鈾 ）
• 樣品艙設(shè)計：開閉式
• XY 軸樣品臺選擇：自動臺
• 最大樣品尺寸：270 x 220 x 150 毫米
• 最大數(shù)量準直器：4
• 濾光片：6 種模式自動切換
• 最小的準直器：0.2 毫米
• X-ray Station & Mapping Station 軟件

FT160

• 高分辨率 SDD
• 元素范圍： 鋁 - 鈾
• 樣品艙設(shè)計：開閉式
• XY 軸樣品臺選擇：自動臺、晶片樣品臺
• 最大樣品尺寸：600 x 600 x 20 毫米
• 濾光片：1 或 3
• 毛細管聚焦光斑尺寸< 20µm
• XRF控制器軟件

微焦斑 XRF 光譜儀應用于 PCB、半導體和電子行業(yè)

PCB / PWB 表面處理

控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據(jù)IPC 4556和IPC 4552A測量非電鍍鎳（EN，NiP）電鍍厚度和成分結(jié)構(gòu)。日立分析儀器產(chǎn)品幫助您在嚴控的范圍內(nèi)持續(xù)運營，確保高質(zhì)量并避免昂貴的返工。

電力和電子組件的電鍍

零件必須在規(guī)格范圍內(nèi)被電鍍，以達到預期的電力、機械及環(huán)境性能。 開槽的X-Strata系列產(chǎn)品 ，可以測量小的試片或連續(xù)帶狀樣品，從而達到 引線框架（引線框架）、連接器插針、線材和端子的上、中和預鍍層厚度的控制。

IC 載板

半導體器件越來越小巧而復雜，需要分析設(shè)備測量其在小區(qū)域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設(shè)計為可為客戶所需應用提供高準確性分析，及重復性好的數(shù)據(jù)。

服務電子制造過程 （EMS、ECS）

結(jié)合采購和本地制造的組件及涉及產(chǎn)品的多個測試點，實現(xiàn)從進廠檢查到生產(chǎn)線流程控制，再到最終質(zhì)量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產(chǎn)品幫助您在全生產(chǎn)鏈分析組件、焊料和最終產(chǎn)品，確保每個階段的質(zhì)量。

光伏產(chǎn)品

對可再生能源的需求不斷增加，而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽能電池的質(zhì)量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準確度和連貫性，從而確保最高效率。

受限材料和高可靠性篩查

與復雜的全球供應鏈合作，驗證和檢驗從供應商處收到的材料至關(guān)重要。使用日立分析儀器的XRF技術(shù)，根據(jù)IEC 62321方法檢驗進貨是否符合RoHS和ELV等法規(guī)要求，確保高可靠性涂鍍層被應用于航空和軍事領(lǐng)域。

微焦斑 XRF 光譜儀應用于金屬表面處理

耐腐蝕性

檢驗所用涂層的厚度和化學性質(zhì)，以確保產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的功能性和使用壽命。輕松處理小緊固件或大型組件。

耐磨性

通過確保磨蝕環(huán)境中關(guān)鍵部件的涂層厚度和均勻度，預防產(chǎn)品故障。復雜的形狀、薄或厚的涂層和成品都可被測量。

裝飾性表面

當目標是實現(xiàn)無瑕表面時，整個生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制至關(guān)重要。通過日立分析儀器的多種測試設(shè)備，您可以可靠地檢測基材，中間層和頂層厚度。

耐高溫

在極端條件下進行的零件的表面處理必須被控制在嚴格公差范圍內(nèi)。確保符合涂鍍層規(guī)格、避免產(chǎn)品召回和潛在的災難性故障。